日本napson便攜式電阻測(cè)試儀無損渦流探頭 DUORES 特點(diǎn)介紹

手持式方塊電阻測(cè)量儀，兼容 4 探頭法和無損（渦流法）探頭

手持式薄層電阻測(cè)量裝置，易于攜帶和測(cè)量，

可根據(jù)測(cè)量對(duì)象更換兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。

可與兩種類型探頭（無損型和接觸型）互換使用的手持式方塊電阻測(cè)量裝置。

只需放置/應(yīng)用探頭即可自動(dòng)測(cè)量

電池連續(xù)工作時(shí)間：24小時(shí)（*使用電池時(shí)）

顯示數(shù)據(jù)數(shù)：最多100條（*從最新數(shù)據(jù)開始顯示）

保存數(shù)據(jù)數(shù)：最多50,000個(gè)（*專用軟件顯示）

測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸功能：USB-Mini

顯示：3種顯示單位（Ω/□、S/□、n/m[金屬膜厚度換算]）、4位浮點(diǎn)數(shù)（0.000～9999）

日本napson便攜式電阻測(cè)試儀無損渦流探頭 DUORES 規(guī)格參數(shù)

測(cè)量目標(biāo)

薄膜、玻璃上的薄膜等

原則上任何樣品只要在測(cè)量范圍內(nèi)都可以測(cè)量。

薄膜材料（ITO、TCO等）

低輻射玻璃

碳納米管、石墨烯材料

金屬材料（納米線、網(wǎng)格、網(wǎng)格）

其他的

無論尺寸或厚度如何，均可進(jìn)行測(cè)量

（*每個(gè)探頭的測(cè)量點(diǎn)尺寸或更大）

<測(cè)量點(diǎn)>

無損探頭（渦流式）：φ25mm

接觸探頭（4探頭型）：9mm（針距3mm）

手持式方塊電阻測(cè)量儀，兼容 4 探頭法和無損（渦流法）探頭

手持式薄層電阻測(cè)量裝置，易于攜帶和測(cè)量，

可根據(jù)測(cè)量對(duì)象更換兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。