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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類
更新時(shí)間：2024-06-29 
瀏覽次數(shù)：322日本納普森Napson手持探針電阻測(cè)試儀EC-80P無損檢測(cè)儀
只需簡單接觸筆型探針即可進(jìn)行測(cè)量
可在任意位置進(jìn)行測(cè)量，不會(huì)損壞樣品
易于操作的手持探針
通過切換測(cè)量模式，調(diào)整片材電阻和電阻率
可顯示在
通過JOG撥盤輕松設(shè)定測(cè)量條件
電阻測(cè)量探頭按范圍排列
寬敞，支持廣泛的范圍
（電阻探針:最多2根+PN判定探針
同時(shí)接続可能）
探頭2~第三條是可選的。
測(cè)量光斑直徑（探針芯直徑）:
14mmΦ
[電阻率] 1m 至200Ω.cm
(*所有探頭類型的總范圍/厚度500um)
[表面電阻] 10m 至3k2/sq
(*所有探頭類型的總范圍)
*有關(guān)每種探頭類型的測(cè)量范圍，請(qǐng)參見下文。
(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω.cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω.cm)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω).cm)
(4) S-高:1,000-3,0002/□(60-200Ω.m)
(5)太陽能晶圓:5-500Ω2/□(0.2-15Ω.cm)
產(chǎn)品尺寸
·機(jī)身:W255xD275xH95mm,4kg
·探頭部分:20mmΦx80mm
郵箱：akiyama_zhou@163.com
傳真：
地址：廣東省深圳市龍崗區(qū)龍崗街道新生社區(qū)新旺路8號(hào)和健云谷2棟10層1002
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